呼和(hé)浩特鐵(tiě)路局集包線GSM-R幹擾測試

測試時(shí)間:2016-08-11 14:52:28

測試地點:測試點位于JiNingNan站(zhàn)附近K4-K5區(qū)間(E113°5'34.9"東,N 41°1'42.1"北);

測試人員:呼和(hé)浩特通信段、北京環興旺科技發展有限公司相關人員

事(shì)件背景:

此次幹擾排查測試點位于JiNingNan站(zhàn)及站(zhàn)前廣場四周,該地點通過在後台BSC網管監測顯示一直出現(xiàn)4-5級上(shàng)行幹擾帶占比100%的情況,嚴重影響鐵(tiě)路上(shàng)行數據傳輸。

幹擾排查過程:

針對(duì)該情況在此處首先利用(yòng)IDA2幹擾定向分析儀結合定向天線在車站(zhàn)廣場及站(zhàn)台附件進行空(kōng)口無線測試,測試現(xiàn)場參見下(xià)圖

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測試點現(xiàn)場圖(站(zhàn)台廣場)

随後,通過通信段工(gōng)程師和(hé)電務處及網管中心聯系溝通後,在該地點允許進入通信機房利用(yòng)機房設備進行幹擾排查測試,從(cóng)而可以進一步排查問題所在,此次進入機房後,主要測試内容爲将測試接收機分别接入與DDPU兩路輸入相連的饋線,利用(yòng)基站(zhàn)自(zì)身天饋系統進行接收,從(cóng)而排查是否存在外(wài)部幹擾。測試結果參見下(xià)圖


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測試點現(xiàn)場圖(站(zhàn)内機房)

使用(yòng)幹擾定向分析儀結合定向天線,在站(zhàn)台廣場測得GSM-R上(shàng)行頻段(885MHz-889MHz)結果如下(xià)圖所示:

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測試點頻譜圖(870MHz-890MHz)(站(zhàn)台空(kōng)口測試)


進入站(zhàn)内機房後,通過利用(yòng)基站(zhàn)自(zì)身天饋系統進行接收,使用(yòng)測試設備分别對(duì)DDPU兩路通道(dào)輸入針對(duì)GSM-R上(shàng)行(885MHz-889MHz)分别進行測試,所測結果參見下(xià)圖:


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測試點頻譜圖(870MHz-890MHz)(站(zhàn)内機房DDPU第一通道(dào)測試)


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測試點頻譜圖(870MHz-890MHz)(站(zhàn)内機房DDPU第二通道(dào)測試)

初步結論

(1)通過“頻譜圖3-1”可以看(kàn)出,在站(zhàn)台廣場及集甯南站(zhàn)周邊進行空(kōng)口測試,GSM-R上(shàng)行頻段底噪值在-98dBm以下(xià),無線電磁環境正常。此處CDMA信号頻譜規則完整,并沒有出現(xiàn)雜(zá)散和(hé)信号拖尾幹擾GSM-R上(shàng)行頻段的情況。


(2)進入機房内後,将測試設備與DDPU第一通道(dào)相連的饋線相連,利用(yòng)基站(zhàn)自(zì)身的天饋系統進行接收。通過“頻譜圖3-2”可以看(kàn)出,GSM-R上(shàng)行頻段的測試結果與外(wài)部儀表自(zì)身接收的測試結果基本一緻,未發現(xiàn)有外(wài)部幹擾情況。


(3)将測試設備與DDPU第二通道(dào)相連的饋線相連,利用(yòng)基站(zhàn)自(zì)身的天饋系統進行接收。通過“頻譜圖3-3”可以看(kàn)出,GSM-R上(shàng)行頻段與外(wài)部空(kōng)口測試結果基本一緻,也(yě)未發現(xiàn)外(wài)部幹擾情況。


結合以上(shàng)測試步驟及相關測試結果可以看(kàn)出,該地點通過無線空(kōng)口測試以及進入通信機房後測試設備與基站(zhàn)兩路天饋系統相連測試的結果相一緻,測試結果均表明(míng)無線電磁環境良好(hǎo),并且該地點并未設置直放(fàng)站(zhàn),故也(yě)不存在直放(fàng)站(zhàn)帶來(lái)的上(shàng)行幹擾,說明(míng)此處幹擾不是由外(wài)部幹擾造成。同時(shí)在測試過程中發現(xiàn),當斷開(kāi)基站(zhàn)DDPU與天饋系統主通道(dào)時(shí),設備并不上(shàng)報(bào)駐波告警,建議(yì)設備廠(chǎng)家詳細檢查基站(zhàn)主設備。

此次通過利用(yòng)幹擾分析儀與雙雙工(gōng)單元(DDPU)相連的兩路通道(dào)直連進行測試,也(yě)可以看(kàn)出基站(zhàn)天線至DDPU輸入部分正常,結合BCS網管監測顯示一直存在上(shàng)行4-5級幹擾帶占比較高(gāo),懷疑爲基站(zhàn)自(zì)身器件性能(néng)異常導緻。故建議(yì)測試DDPU單元、DTRU單元及DDPU至DTRU之間鏈路,排除器件性能(néng)惡化及故障造成的互調幹擾及載頻問題。